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一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置

专利类型: 中国实用新型

专利权人: 北京农业信息技术研究中心

发明人: 李斌;罗长海;张永珍;王姝言;孙晓冬

专利号: CN201820945938.4

摘要: 本实用新型涉及样品研磨技术领域,尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构,所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽,所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接,所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器,所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构,所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本实用新型所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置,能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰,获得样品最佳研磨结果,为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。

  • 相关文献

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[2]用于太赫兹光谱测量的土壤样品压片制备方法研究. 李斌,赵春江. 2016

[3]基于太赫兹时域光谱的转基因与非转基因棉花种子鉴别. 沈晓晨,李斌,李霞,龙园. 2017

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[5]基于太赫兹成像技术的大豆叶片水分含量测定. 步正延,李臻峰,宋飞虎,李斌,李静. 2018

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